更新時間:2024-11-06
橡膠硬度計XHS-D 測量硬質(zhì)橡膠、塑料材料硬度的試驗儀器。 執(zhí)行標準:GB/T2411、JJG1039。 硬度計表頭可安裝在定負荷測定架上,在實驗室內(nèi)對硬質(zhì)橡膠、塑料材料標準試片測定其標準硬度,也可手持硬度計表頭在生產(chǎn)車間及承裝在設備上的橡塑材料進行測定其表面硬度。
橡膠硬度計XHS-D
測量硬質(zhì)橡膠、塑料材料硬度的試驗儀器。
執(zhí)行標準:GB/T2411、JJG1039。
橡膠硬度計XHS-D 主要技術(shù)參數(shù):
壓針行程:0-2.5mm
硬度顯示范圍:0-100度
試樣厚度:≥4mm(可兩層疊加)
三種硬度計的適應范圍:
1、XHS-A:常規(guī)硬度計,試驗準確區(qū)域值為20-85度
2、XHS-D:高值硬度計,試驗準確區(qū)域值為20-80度(當A型硬度在85度以上,應采用D型測量)
3、XHS-W:低值硬度計,試驗準確區(qū)域值為20-85度(當A型硬度在35度以下,應采用W型測量)
產(chǎn)品名稱:電阻率方塊電阻測試儀 產(chǎn)品型號:KDB-1 |
本方阻測試新產(chǎn)品為薄膜測試提供機械、電氣兩方面的保護,在寬廣的量程范圍內(nèi),使各種電子薄膜能得到準確、無損的方塊電阻測量結(jié)果。
由于新型薄膜材料種類繁多,研制過程中樣品性能變化較大,而且各種薄膜的機械強度,允許承受的電壓、電流均不相同,因此KDB-1型測試儀可為用戶量身定制各種特定探針壓力及曲率半徑的探針頭,儀器的測試電流分7檔,可由0.4μA增加到大為1000mA,測試電壓可由8V增加到80V,測試電壓和測試電流均可連續(xù)調(diào)節(jié),給薄膜、涂層的研制者提供了一個摸索測試條件的寬闊空間。
由于儀器設有恒流源開關(guān),并且所有電流檔在探針與樣品接觸后均有電流延時接通的功能,充分保護了樣品表面不會因為探針接觸時產(chǎn)生的電火花而受到損壞。
儀器性能
方阻測量范圍:1×10-5~2×106Ω/□,小分辨率1×10-5Ω/□;
電阻率測量范圍:1×10-6~2×105Ω·cm或1×10-8~2×103Ω·m,小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m;
探針壓力:25g~250g;
探針曲率半徑:25μm~450μm
(注:探針壓力及曲率半徑可根據(jù)薄膜材料性能及用戶需求定制);
測試電流分7檔:1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA;
測試電壓:(1μA~10 mA檔)12~80V連續(xù)可調(diào)
(100mA檔) 8~36V連續(xù)可調(diào)
(1000mA檔) 8~15V連續(xù)可調(diào);
測量方式:手動或自動(配置測試軟件);
測量對象:導電薄膜、半導體薄膜、電力電容器鋁箔、各種金屬箔、銀漿涂層、鋰電池隔膜等各種新型電子薄膜;各種半導體材料的電阻率。
產(chǎn)品名稱:聲級計 噪音計 噪聲計 產(chǎn)品型號: TES-1351B |
聲級計 噪音計 噪聲計 型號: TES-1351B
標準: IEC 61672-1Class2和ANSIS1.4 TYPE2
測量范圍: A LO (Low) - Weighting: 35- 95dB
A HI (High) - Weighting:65-130dB
C LO (Low) - Weighting: 35- 95dB
C HI (High) - Weighting:65-130dB
解析度: 0.1dB
頻率范圍: 20Hz ~ 8KHz
準確度: ±1.4dB (在參考音壓位準, 94dB @1KHz)
動態(tài)范圍: 65dB
權(quán)衡網(wǎng)路頻率: A、C
反應速率: 快速(FAST:125mS) 慢速(SLOW:1second) 脈衡(IMPULSE:35mS)
讀值鎖定: MAX HOLD(下降率 ≤1dB/3分鐘
麥克風: 化電容式麥克風
?!≌? 內(nèi)部94.0dB校正
輸 出: AC約0.55Vrms(每范圍檔),輸出阻抗600ΩDC約10mV/dB (nominally)
輸出阻抗: 100Ω
操作溫濕度: 0℃ ~40℃ 10%RH~ 80% R. H.
儲存溫濕度: -10℃~+60℃ -10%RH~75% R.H.
顯示器:4位數(shù)LCD顯示音量位準dB(分貝),過范圍指示"OVER",低電池電力"BT"符號指示.
電 源: 單一9V電池,006P或NEDA1604或IEC6F22
尺寸及重量: 240mm(L)x68mm(W)x25mm(H)&215g
標準附件: 皮套,測試棒,電池,使用說明書